ಫ್ಲಾಟ್ ಪ್ಯಾನಲ್ ಡಿಸ್ಪ್ಲೇ (ಎಫ್‌ಪಿಡಿ) ತಯಾರಿಕೆಯ ಸಮಯದಲ್ಲಿ, ಪ್ಯಾನಲ್‌ಗಳ ಕಾರ್ಯವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಪರೀಕ್ಷೆಗಳು ಮತ್ತು ಉತ್ಪಾದನಾ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯನ್ನು ಮೌಲ್ಯಮಾಪನ ಮಾಡಲು ಪರೀಕ್ಷೆಗಳನ್ನು ನಡೆಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ರಚನೆಯ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ಪರೀಕ್ಷೆ
ಅರೇ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ಪ್ಯಾನಲ್ ಕಾರ್ಯವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು, ಅರೇ ಪರೀಕ್ಷೆಯನ್ನು ಅರೇ ಪರೀಕ್ಷಕ, ಅರೇ ಪ್ರೋಬ್ ಮತ್ತು ಪ್ರೋಬ್ ಯುನಿಟ್ ಬಳಸಿ ನಡೆಸಲಾಗುತ್ತದೆ.ಈ ಪರೀಕ್ಷೆಯನ್ನು ಗಾಜಿನ ತಲಾಧಾರಗಳ ಮೇಲೆ ಫಲಕಗಳಿಗಾಗಿ ರಚಿಸಲಾದ TFT ಅರೇ ಸರ್ಕ್ಯೂಟ್‌ಗಳ ಕಾರ್ಯವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಮತ್ತು ಯಾವುದೇ ಮುರಿದ ತಂತಿಗಳು ಅಥವಾ ಶಾರ್ಟ್‌ಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚಲು ವಿನ್ಯಾಸಗೊಳಿಸಲಾಗಿದೆ.
ಅದೇ ಸಮಯದಲ್ಲಿ, ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯ ಯಶಸ್ಸನ್ನು ಪರಿಶೀಲಿಸಲು ಮತ್ತು ಹಿಂದಿನ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಯನ್ನು ಪರಿಶೀಲಿಸಲು ರಚನೆಯ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು, TEG ಪರೀಕ್ಷೆಗಾಗಿ DC ಪ್ಯಾರಾಮೀಟರ್ ಪರೀಕ್ಷಕ, TEG ಪ್ರೋಬ್ ಮತ್ತು ಪ್ರೋಬ್ ಘಟಕವನ್ನು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.("TEG" ಎಂದರೆ TFTಗಳು, ಕೆಪ್ಯಾಸಿಟಿವ್ ಅಂಶಗಳು, ತಂತಿ ಅಂಶಗಳು ಮತ್ತು ಅರೇ ಸರ್ಕ್ಯೂಟ್‌ನ ಇತರ ಅಂಶಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಂತೆ ಟೆಸ್ಟ್ ಎಲಿಮೆಂಟ್ ಗ್ರೂಪ್.)
ಘಟಕ/ಮಾಡ್ಯೂಲ್ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ಪರೀಕ್ಷೆ
ಕೋಶ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆ ಮತ್ತು ಮಾಡ್ಯೂಲ್ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ಫಲಕ ಕಾರ್ಯವನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸುವ ಸಲುವಾಗಿ, ಬೆಳಕಿನ ಪರೀಕ್ಷೆಗಳನ್ನು ನಡೆಸಲಾಯಿತು.
ಪ್ಯಾನಲ್ ಕಾರ್ಯಾಚರಣೆ, ಪಾಯಿಂಟ್ ದೋಷಗಳು, ಸಾಲಿನ ದೋಷಗಳು, ವರ್ಣೀಯತೆ, ವರ್ಣ ವಿಪಥನ (ಏಕರೂಪವಲ್ಲದ), ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಇತ್ಯಾದಿಗಳನ್ನು ಪರಿಶೀಲಿಸಲು ಪರೀಕ್ಷಾ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಪ್ರದರ್ಶಿಸಲು ಫಲಕವನ್ನು ಸಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸಲಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಪ್ರಕಾಶಿಸಲಾಗಿದೆ.
ಎರಡು ತಪಾಸಣೆ ವಿಧಾನಗಳಿವೆ: ಆಪರೇಟರ್ ದೃಶ್ಯ ಫಲಕ ತಪಾಸಣೆ ಮತ್ತು ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತವಾಗಿ ದೋಷ ಪತ್ತೆ ಮತ್ತು ಪಾಸ್/ಫೇಲ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯನ್ನು ನಿರ್ವಹಿಸುವ CCD ಕ್ಯಾಮರಾವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತ ಫಲಕ ತಪಾಸಣೆ.
ಸೆಲ್ ಪರೀಕ್ಷಕರು, ಸೆಲ್ ಪ್ರೋಬ್‌ಗಳು ಮತ್ತು ಪ್ರೋಬ್ ಘಟಕಗಳನ್ನು ತಪಾಸಣೆಗಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಮಾಡ್ಯೂಲ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯು ಮುರಾ ಪತ್ತೆ ಮತ್ತು ಪರಿಹಾರ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯನ್ನು ಸಹ ಬಳಸುತ್ತದೆ, ಅದು ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತವಾಗಿ ಮುರಾ ಅಥವಾ ಡಿಸ್ಪ್ಲೇಯಲ್ಲಿ ಅಸಮಾನತೆಯನ್ನು ಪತ್ತೆ ಮಾಡುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಬೆಳಕು-ನಿಯಂತ್ರಿತ ಪರಿಹಾರದೊಂದಿಗೆ ಮುರಾವನ್ನು ತೆಗೆದುಹಾಕುತ್ತದೆ.
ಪೋಸ್ಟ್ ಸಮಯ: ಜನವರಿ-18-2022