ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ತಪಾಸಣೆ (AXI) ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ತಪಾಸಣೆ (AOI) ಯಂತೆಯೇ ಅದೇ ತತ್ವಗಳನ್ನು ಆಧರಿಸಿದ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವಾಗಿದೆ.ವಿಶಿಷ್ಟವಾಗಿ ವೀಕ್ಷಣೆಯಿಂದ ಮರೆಮಾಡಲಾಗಿರುವ ವೈಶಿಷ್ಟ್ಯಗಳನ್ನು ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತವಾಗಿ ಪರಿಶೀಲಿಸಲು ಇದು ಗೋಚರ ಬೆಳಕಿನ ಬದಲಿಗೆ X- ಕಿರಣಗಳನ್ನು ಅದರ ಮೂಲವಾಗಿ ಬಳಸುತ್ತದೆ.
ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ತಪಾಸಣೆಯನ್ನು ವ್ಯಾಪಕ ಶ್ರೇಣಿಯ ಕೈಗಾರಿಕೆಗಳು ಮತ್ತು ಅಪ್ಲಿಕೇಶನ್‌ಗಳಲ್ಲಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ, ಪ್ರಧಾನವಾಗಿ ಎರಡು ಪ್ರಮುಖ ಗುರಿಗಳೊಂದಿಗೆ:
ಪ್ರಕ್ರಿಯೆ ಆಪ್ಟಿಮೈಸೇಶನ್, ಅಂದರೆ ತಪಾಸಣೆಯ ಫಲಿತಾಂಶಗಳನ್ನು ಕೆಳಗಿನ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆ ಹಂತಗಳನ್ನು ಅತ್ಯುತ್ತಮವಾಗಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ,
ಅಸಂಗತತೆ ಪತ್ತೆ, ಅಂದರೆ ತಪಾಸಣೆಯ ಫಲಿತಾಂಶವು ಭಾಗವನ್ನು ತಿರಸ್ಕರಿಸುವ ಮಾನದಂಡವಾಗಿ ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಹಿಸುತ್ತದೆ (ಸ್ಕ್ರ್ಯಾಪ್ ಅಥವಾ ಮರು-ಕೆಲಸಕ್ಕಾಗಿ).
AOI ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ಸ್ ತಯಾರಿಕೆಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದೆ (PCB ತಯಾರಿಕೆಯಲ್ಲಿ ವ್ಯಾಪಕ ಬಳಕೆಯಿಂದಾಗಿ), AXI ಹೆಚ್ಚು ವ್ಯಾಪಕ ಶ್ರೇಣಿಯ ಅಪ್ಲಿಕೇಶನ್‌ಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ.ಇದು ಮಿಶ್ರಲೋಹದ ಚಕ್ರಗಳ ಗುಣಮಟ್ಟ ಪರಿಶೀಲನೆಯಿಂದ ಹಿಡಿದು ಸಂಸ್ಕರಿಸಿದ ಮಾಂಸದಲ್ಲಿನ ಮೂಳೆಯ ತುಣುಕುಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆ ಹಚ್ಚುವವರೆಗೆ ಇರುತ್ತದೆ.ವ್ಯಾಖ್ಯಾನಿಸಲಾದ ಮಾನದಂಡದ ಪ್ರಕಾರ ಹೆಚ್ಚಿನ ಸಂಖ್ಯೆಯ ಒಂದೇ ರೀತಿಯ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸಿದರೆ, ಸುಧಾರಿತ ಇಮೇಜ್ ಪ್ರೊಸೆಸಿಂಗ್ ಮತ್ತು ಪ್ಯಾಟರ್ನ್ ರೆಕಗ್ನಿಷನ್ ಸಾಫ್ಟ್‌ವೇರ್ (ಕಂಪ್ಯೂಟರ್ ದೃಷ್ಟಿ) ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತ ತಪಾಸಣೆ ಗುಣಮಟ್ಟವನ್ನು ಖಚಿತಪಡಿಸಿಕೊಳ್ಳಲು ಮತ್ತು ಸಂಸ್ಕರಣೆ ಮತ್ತು ಉತ್ಪಾದನೆಯಲ್ಲಿ ಇಳುವರಿಯನ್ನು ಸುಧಾರಿಸಲು ಉಪಯುಕ್ತ ಸಾಧನವಾಗಿದೆ.
ಇಮೇಜ್ ಪ್ರೊಸೆಸಿಂಗ್ ಸಾಫ್ಟ್‌ವೇರ್‌ನ ಪ್ರಗತಿಯೊಂದಿಗೆ ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ತಪಾಸಣೆಗಾಗಿ ಅಪ್ಲಿಕೇಶನ್‌ಗಳ ಸಂಖ್ಯೆಯು ದೊಡ್ಡದಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ನಿರಂತರವಾಗಿ ಬೆಳೆಯುತ್ತಿದೆ.ಮೊದಲ ಅನ್ವಯಿಕೆಗಳು ಕೈಗಾರಿಕೆಗಳಲ್ಲಿ ಪ್ರಾರಂಭವಾದವು, ಅಲ್ಲಿ ಘಟಕಗಳ ಸುರಕ್ಷತೆಯ ಅಂಶವು ಉತ್ಪಾದಿಸುವ ಪ್ರತಿಯೊಂದು ಭಾಗವನ್ನು ಎಚ್ಚರಿಕೆಯಿಂದ ಪರಿಶೀಲಿಸುವಂತೆ ಒತ್ತಾಯಿಸಿತು (ಉದಾಹರಣೆಗೆ ಪರಮಾಣು ಶಕ್ತಿ ಕೇಂದ್ರಗಳಲ್ಲಿನ ಲೋಹದ ಭಾಗಗಳಿಗೆ ಬೆಸುಗೆ ಹಾಕುವ ಸ್ತರಗಳು) ಏಕೆಂದರೆ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವು ಆರಂಭದಲ್ಲಿ ತುಂಬಾ ದುಬಾರಿಯಾಗಿತ್ತು.ಆದರೆ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನದ ವ್ಯಾಪಕ ಅಳವಡಿಕೆಯೊಂದಿಗೆ, ಬೆಲೆಗಳು ಗಮನಾರ್ಹವಾಗಿ ಕಡಿಮೆಯಾಯಿತು ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚು ವಿಶಾಲವಾದ ಕ್ಷೇತ್ರಕ್ಕೆ ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ತಪಾಸಣೆಯನ್ನು ತೆರೆಯಿತು- ಭಾಗಶಃ ಸುರಕ್ಷತಾ ಅಂಶಗಳಿಂದ (ಉದಾಹರಣೆಗೆ ಸಂಸ್ಕರಿಸಿದ ಆಹಾರದಲ್ಲಿ ಲೋಹ, ಗಾಜು ಅಥವಾ ಇತರ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚುವುದು) ಅಥವಾ ಇಳುವರಿಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸಲು ಮತ್ತು ಸಂಸ್ಕರಣೆಯನ್ನು ಉತ್ತಮಗೊಳಿಸುವುದು (ಉದಾಹರಣೆಗೆ ಸ್ಲೈಸಿಂಗ್ ಮಾದರಿಗಳನ್ನು ಉತ್ತಮಗೊಳಿಸಲು ಚೀಸ್‌ನಲ್ಲಿರುವ ರಂಧ್ರಗಳ ಗಾತ್ರ ಮತ್ತು ಸ್ಥಳದ ಪತ್ತೆ).[4]
ಸಂಕೀರ್ಣ ವಸ್ತುಗಳ ಸಾಮೂಹಿಕ ಉತ್ಪಾದನೆಯಲ್ಲಿ (ಉದಾ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ಸ್ ತಯಾರಿಕೆಯಲ್ಲಿ), ದೋಷಗಳ ಆರಂಭಿಕ ಪತ್ತೆಯು ಒಟ್ಟಾರೆ ವೆಚ್ಚವನ್ನು ತೀವ್ರವಾಗಿ ಕಡಿಮೆ ಮಾಡುತ್ತದೆ, ಏಕೆಂದರೆ ಇದು ನಂತರದ ಉತ್ಪಾದನಾ ಹಂತಗಳಲ್ಲಿ ದೋಷಯುಕ್ತ ಭಾಗಗಳನ್ನು ಬಳಸದಂತೆ ತಡೆಯುತ್ತದೆ.ಇದು ಮೂರು ಪ್ರಮುಖ ಪ್ರಯೋಜನಗಳನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡುತ್ತದೆ: ಎ) ವಸ್ತುಗಳು ದೋಷಯುಕ್ತವಾಗಿವೆ ಅಥವಾ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯ ನಿಯತಾಂಕಗಳು ನಿಯಂತ್ರಣದಿಂದ ಹೊರಗುಳಿದಿವೆ ಎಂದು ಸಾಧ್ಯವಾದಷ್ಟು ಬೇಗ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಯನ್ನು ನೀಡುತ್ತದೆ, ಬಿ) ಇದು ಈಗಾಗಲೇ ದೋಷಯುಕ್ತವಾಗಿರುವ ಘಟಕಗಳಿಗೆ ಮೌಲ್ಯವನ್ನು ಸೇರಿಸುವುದನ್ನು ತಡೆಯುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಆದ್ದರಿಂದ ದೋಷದ ಒಟ್ಟಾರೆ ವೆಚ್ಚವನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಮಾಡುತ್ತದೆ. , ಮತ್ತು c) ಇದು ಅಂತಿಮ ಉತ್ಪನ್ನದ ಕ್ಷೇತ್ರ ದೋಷಗಳ ಸಾಧ್ಯತೆಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸುತ್ತದೆ, ಏಕೆಂದರೆ ಪರೀಕ್ಷಾ ಮಾದರಿಗಳ ಸೀಮಿತ ಸೆಟ್‌ನಿಂದಾಗಿ ಗುಣಮಟ್ಟದ ತಪಾಸಣೆಯಲ್ಲಿ ಅಥವಾ ಕ್ರಿಯಾತ್ಮಕ ಪರೀಕ್ಷೆಯ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ದೋಷವನ್ನು ನಂತರದ ಹಂತಗಳಲ್ಲಿ ಕಂಡುಹಿಡಿಯಲಾಗುವುದಿಲ್ಲ.
ಪೋಸ್ಟ್ ಸಮಯ: ಡಿಸೆಂಬರ್-28-2021